- 5 resultados
menor preço: € 106,99, preço mais alto: € 149,79, preço médio: € 125,99
1
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Encomendar
no/na lehmanns.de
€ 106,99
EncomendarLink patrocinado
Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen:

Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - novo libro

2010, ISBN: 9781441909282

eBooks, eBook Download (PDF), 2010, Managing the power consumption of circuits and systems is now considered one of the most important challenges for the semiconductor industry. Elaborate… mais…

Custos de envio:Does not ship to your country., mais custos de envio
2
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Encomendar
no/na Hugendubel.de
€ 106,99
EncomendarLink patrocinado
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - novo libro

ISBN: 9781441909282

*Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices* / pdf eBook für 106.99 € / Aus dem Bereich: eBooks, Sachthemen & Ratgeber, Computer & Internet Medien > Bücher nein eBook a… mais…

Custos de envio:Does not ship to your country., mais custos de envio
3
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Anna Kuzio
Encomendar
no/na hive.co.uk
£ 99,45
(aproximadamente € 116,38)
EncomendarLink patrocinado
Anna Kuzio:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - novo libro

ISBN: 9781441909282

; PDF; Scientific, Technical and Medical > Electronics & communications engineering > Electronics engineeri, Cambridge Scholars Publishing

No. 9781441909282. Custos de envio:Instock, Despatched same working day before 3pm, plus shipping costs., mais custos de envio
4
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Encomendar
no/na lehmanns.de
€ 149,79
Envio: € 0,001
EncomendarLink patrocinado
Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - novo libro

2010, ISBN: 9781441909282

eBooks, eBook Download (PDF), 2010, [PU: Springer US], Springer US, 2010

Custos de envio:Download sofort lieferbar. (EUR 0.00)
5
Encomendar
no/na lehmanns.de
€ 149,79
Envio: € 0,001
EncomendarLink patrocinado
Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen:
Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices - novo libro

2010, ISBN: 9781441909282

2010, eBook Download (PDF), eBooks, [PU: Springer US]

Custos de envio:Download sofort lieferbar, , Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00)

1Como algumas plataformas não transmitem condições de envio e estas podem depender do país de entrega, do preço de compra, do peso e tamanho do artigo, de uma possível adesão à plataforma, de uma entrega directa pela plataforma ou através de um terceiro fornecedor (Marketplace), etc., é possível que os custos de envio indicados pelo eurolivro não correspondam aos da plataforma ofertante.

Dados bibliográficos do melhor livro correspondente

Pormenores referentes ao livro

Dados detalhados do livro - Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices


EAN (ISBN-13): 9781441909282
ISBN (ISBN-10): 1441909281
Ano de publicação: 2010
Editor/Editora: Springer-Verlag GmbH
353 Páginas
Língua: eng/Englisch

Livro na base de dados desde 2011-10-05T19:05:02+01:00 (Lisbon)
Página de detalhes modificada pela última vez em 2023-06-15T08:53:26+01:00 (Lisbon)
Número ISBN/EAN: 1441909281

Número ISBN - Ortografia alternativa:
1-4419-0928-1, 978-1-4419-0928-2
Ortografia alternativa e termos de pesquisa relacionados:
Autor do livro: girard patrick, xiaoqi
Título do livro: test


Dados da editora

Autor: Patrick Girard; Nicola Nicolici; Xiaoqing Wen
Título: Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices
Editora: Springer; Springer US
363 Páginas
Ano de publicação: 2010-03-11
New York; NY; US
Impresso / Feito em
Língua: Inglês
106,99 € (DE)
110,00 € (AT)
130,00 CHF (CH)
Available
XXI, 363 p.

EA; E107; eBook; Nonbooks, PBS / Technik/Elektronik, Elektrotechnik, Nachrichtentechnik; Schaltkreise und Komponenten (Bauteile); Verstehen; Electronic Testing; Low Power Design; Low Power Testing; Nanoscale Testing; Nicolici; Power Aware Testing; Semiconductor Testing; VLSI; Wen; power management; semiconductor; testing; B; Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Electronic Circuits and Systems; Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design; Engineering; Computer-Aided Design (CAD); BB

Fundamentals of VLSI Testing.- Power Issues During Test.- Low-Power Test Pattern Generation.- Power-Aware Design-for-Test.- Power-Aware Test Data Compression and BIST.- Power-Aware System-Level Test Planning.- Low-Power Design Techniques and Test Implications.- Test Strategies for Multivoltage Designs.- Test Strategies for Gated Clock Designs.- Test of Power Management Structures.- EDA Solution for Power-Aware Design-for-Test.

< Para arquivar...