2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… mais…
Achtung-Buecher.de MARZIES.de Buch- und Medienhandel, 14621 Schönwalde-Glien Custos de envio:Versandkostenfrei innerhalb der BRD. (EUR 0.00) Details... |
2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… mais…
ZVAB.com Buchpark, Trebbin, Germany [83435977] [Rating: 5 (von 5)] NOT NEW BOOK. Custos de envio:Versandkostenfrei. (EUR 0.00) Details... |
2008, ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … mais…
booklooker.de |
2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
Biblio.co.uk |
2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
Biblio.co.uk |
2008, ISBN: 3540851542
2008 Gebundene Ausgabe Physik / Allgemeines, Einführung, Lexikon, calculus; Electron; electronmicroscopy; electronoptics; microscopy; optics; scanningelectronmicroscopy, mit Schutzumsch… mais…
Luysberg, Martina, Karsten Tillmann und Thomas Weirich:
EMC 2008 Vol 1: Instrumentation and Methods - encadernado, livro de bolso2008, ISBN: 3540851542
[EAN: 9783540851547], Gebraucht, guter Zustand, [SC: 0.0], [PU: Springer Berlin], ELECTRON MICROSCOPY,CALCULUS,MICROSCOPY,SCANNING MICROSCOPY,OPTICS,ELECTRON OPTICS,ELECTRON,, Neubindung,… mais…
2008
ISBN: 9783540851547
[PU: Springer Berlin], Neubindung, Buchschnitt etwas zu weit abgeschnitten, Buchblock leicht schräg eingesetzt, Ausgabe 2008 4564805/12, DE, [SC: 0.00], gebraucht; sehr gut, gewerbliches … mais…
no/na Biblio.co.uk
2008, ISBN: 9783540851547
Springer. hardcover. New. 6x1x9. Brand New Book in Publishers original Sealing, Springer, 6
no/na Biblio.co.uk
2008, ISBN: 9783540851547
Springer, 2008-08-26. 2008. Hardcover. Used:Good., Springer, 2008-08-26, 0
Dados bibliográficos do melhor livro correspondente
Autor: | |
Título: | |
Número ISBN: |
Dados detalhados do livro - EMC 2008: Vol 1: Instrumentation and Methods
EAN (ISBN-13): 9783540851547
ISBN (ISBN-10): 3540851542
Livro de capa dura
Livro de bolso
Ano de publicação: 2008
Editor/Editora: Luysberg, Martina, Tillmann, Karsten, Weirich, Thomas, Springer
862 Páginas
Peso: 1,388 kg
Língua: eng/Englisch
Livro na base de dados desde 2008-09-04T22:14:00+01:00 (Lisbon)
Página de detalhes modificada pela última vez em 2024-04-16T21:45:18+01:00 (Lisbon)
Número ISBN/EAN: 9783540851547
Número ISBN - Ortografia alternativa:
3-540-85154-2, 978-3-540-85154-7
Ortografia alternativa e termos de pesquisa relacionados:
Autor do livro: schryvers, karsten thomas, tillmann, weirich, luys, martina thom, till thomas, luy
Título do livro: aachen september, die instrumentation der, 2008, tillmann, emc
Dados da editora
Autor: Martina Luysberg; Karsten Tillmann; Thomas Weirich
Título: EMC 2008 - Vol 1: Instrumentation and Methods
Editora: Springer; Springer Berlin
862 Páginas
Ano de publicação: 2008-08-26
Berlin; Heidelberg; DE
Língua: Inglês
320,99 € (DE)
329,99 € (AT)
354,00 CHF (CH)
Available
XXXVIII, 862 p.
BB; Hardcover, Softcover / Physik, Astronomie/Allgemeines, Lexika; Mathematik und Naturwissenschaften; Verstehen; Astronomie, Kartographie; calculus; electron; electron microscopy; electron optics; microscopy; optics; scanning electron microscopy; Physics and Astronomy; EA; BC
Instrumentation and Methods.- TEM and STEM instrumentation and Electron Optics.- TEM and STEM methods.- SEM/FIB Instrumentation and Methods.- Other Microscopies.- Image analysis and Processing.- Sample Preparation for Materials Science and Biology.Outros livros adicionais, que poderiam ser muito similares com este livro:
Último livro semelhante:
9783662502259 EMC 2008 (Herausgegeben:Luysberg, Martina; Tillmann, Karsten; Weirich, Thomas)
< Para arquivar...